Mijn boeken
Catalogus
3D deflectometry platform
K. Swedowicz

3D deflectometry platform fast optical scanning technique for inspection of 110 mm silicon wafers

HardbackEngelsDeel 2003/045 →
In het kort

Lijkt op dit boek

NSTC 500997720 · CB-relatie 8196837 · Bijgewerkt 6 augustus 2026
Bestel bij bol →
← Terug naar resultaten
3D deflectometry platform
K. Swedowicz

3D deflectometry platform

fast optical scanning technique for inspection of 110 mm silicon wafers
Bestel bij bol →
In het kort

Lijkt op dit boek

Alles bekijken →
NSTC 500997720 · CB-relatie 8196837 · Bijgewerkt 6 augustus 2026