Advanced Testing and Reliability Enhancements For RRAMs
Hanzhi Xun
Advanced Testing and Reliability Enhancements For RRAMs
PaperbackEngels
In het kort
ISBN-13
9789464739183
Uitgever
Verschenen
11 september 2025
Imprint
Bibliografisch
ISBN-139789464739183
Editie1
TaalEngels eng
GeïllustreerdNee
Uitgave
UitgeverIpskamp Drukkers
ImprintIpskamp Printing
CB-relatie-id6493941
Verschenen11 september 2025
StatusOnbekend 00
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Hardware 987
NUR (alle)987 Hardware
Medewerkers
Auteur A01Hanzhi Xun
Herkomst
Werk-id (NSTC)501639087
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
Lijkt op dit boek
NSTC 501639087 · CB-relatie 6493941 · Bijgewerkt 6 augustus 2026









