Analysis and Test Development for Parasitic Fails in Deep Sub-mircon Memory Devices
Ijeoma Sandra Irobi
Analysis and Test Development for Parasitic Fails in Deep Sub-mircon Memory Devices
Paperback150 pagina’sEngels
In het kort
ISBN-13
9789072298225
Verschenen
15 september 2011
Bibliografisch
ISBN-139789072298225
Editie1
TaalEngels eng
Pagina’s150
GeïllustreerdJa
Uitgave
CB-relatie-id9735112
Verschenen15 september 2011
StatusOnbekend 00
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Computertechniek 958
NUR (alle)958 Computertechniek
Medewerkers
Auteur A01Ijeoma Sandra Irobi
Herkomst
Werk-id (NSTC)500525688
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
NSTC 500525688 · CB-relatie 9735112 · Bijgewerkt 6 augustus 2026