Atomic scale characterization of 3D structures (FinFETs) with atom probe tomography
Ajay Kumar Kambham
Atomic scale characterization of 3D structures (FinFETs) with atom probe tomography
Paperback160 pagina’sEngels
In het kort
ISBN-13
9789086497027
Verschenen
21 maart 2014
Bibliografisch
ISBN-139789086497027
Editie1
TaalEngels eng
Pagina’s160
GeïllustreerdJa
Uitgave
CB-relatie-id9359143
Verschenen21 maart 2014
StatusOnbekend 00
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Natuurkunde algemeen 924
NUR (alle)924 Natuurkunde algemeen
Medewerkers
Auteur A01Ajay Kumar Kambham
Herkomst
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
CB-relatie 9359143 · Bijgewerkt 6 augustus 2026