Mijn boeken
Catalogus
Atomic scale characterization of 3D structures (FinFETs) with atom probe tomography
Ajay Kumar Kambham

Atomic scale characterization of 3D structures (FinFETs) with atom probe tomography

Paperback160 pagina’sEngels
In het kort
ISBN-13
9789086497027
Verschenen
21 maart 2014

Lijkt op dit boek

CB-relatie 9359143 · Bijgewerkt 6 augustus 2026
Bestel bij bol →
← Terug naar resultaten
Atomic scale characterization of 3D structures (FinFETs) with atom probe tomography
Ajay Kumar Kambham

Atomic scale characterization of 3D structures (FinFETs) with atom probe tomography

Paperback160 pagina’sEngels
Bestel bij bol →
In het kort
ISBN-13
9789086497027
Verschenen
21 maart 2014

Lijkt op dit boek

Alles bekijken →
CB-relatie 9359143 · Bijgewerkt 6 augustus 2026