Behavioural Models, Parameter Extraction and Yield Prediction for Silicon Photonic Circuits
Yufei Xing
Behavioural Models, Parameter Extraction and Yield Prediction for Silicon Photonic Circuits
PaperbackEngels
In het kort
ISBN-13
9789463553117
Verschenen
5 december 2019
Bibliografisch
ISBN-139789463553117
Editie1
TaalEngels eng
GeïllustreerdNee
Uitgave
CB-relatie-id9151392
Verschenen5 december 2019
StatusOnbekend 00
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Technische wetenschappen algemeen 950
NUR (alle)950 Technische wetenschappen algemeen
Medewerkers
Auteur A01Yufei Xing
Herkomst
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
CB-relatie 9151392 · Bijgewerkt 6 augustus 2026