Behavioural Models, Parameter Extraction and Yield Prediction for Silicon Photonic Circuits
Yufei Xing
Behavioural Models, Parameter Extraction and Yield Prediction for Silicon Photonic Circuits
PaperbackEngels
In het kort
ISBN-13
9789463553117
Verschenen
5 december 2019
Bibliografisch
ISBN-139789463553117
Editie1
TaalEngels eng
GeïllustreerdNee
Uitgave
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Technische wetenschappen algemeen 950
NUR (alle)950 Technische wetenschappen algemeen
Medewerkers
Auteur A01Yufei Xing
Herkomst
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
Lijkt op dit boek
Gastechnicus
Ontmanteling van een kerncentrale
Waterstof en de verliezen onderweg
Luchtverkeersleiding in gewone taal
Wissels, seinen en de dienstregeling
Teruglevering en negatieve prijzen
Desalination: Drinking the Sea
Brandwerendheid: hoe een gebouw tijd koopt
Tunnelboren onder een bewoonde stad
Chipfabricage van zand tot processor
CB-relatie 9151392 · Bijgewerkt 6 augustus 2026