Bias temperature instability analysis, monitoring and mitigation for nano-scaled circuits
M.S.K. Seyab
Bias temperature instability analysis, monitoring and mitigation for nano-scaled circuits
Paperback180 pagina’sEngels
In het kort
ISBN-13
9789461862099
Uitgever
Verschenen
17 september 2013
Bibliografisch
ISBN-139789461862099
Editie1
TaalEngels eng
Pagina’s180
GeïllustreerdJa
Uitgave
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
Medewerkers
Auteur A01M.S.K. Seyab
Herkomst
Werk-id (NSTC)500476591
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
Lijkt op dit boek
NSTC 500476591 · CB-relatie 7868142 · Bijgewerkt 6 augustus 2026









