Bias Temperature Instability Effects in Devices with Fully-Silicided Gate Stacks, Strained-Si and Multiple-Gate Architectures
A. Shickova
Bias Temperature Instability Effects in Devices with Fully-Silicided Gate Stacks, Strained-Si and Multiple-Gate Architectures
Paperback210 pagina’sEngels
In het kort
ISBN-13
9789460180163
Verschenen
3 december 2008
Bibliografisch
ISBN-139789460180163
Editie1
TaalEngels eng
Pagina’s210
GeïllustreerdJa
Uitgave
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Elektrotechniek 959
NUR (alle)959 Elektrotechniek
Medewerkers
Auteur A01A. Shickova
Herkomst
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
Lijkt op dit boek

Integration of novel polarization handling devices on the generic InP platform

Panelenbouw is een vak apart

2 Luchtbehandeling

Zakboek Elektrotechniek

Handboek Explosieveiligheid

Handbook Explosion Safety

Handbuch Explosionsschutz

Industriële automatiseringstechnieken

Silicon Sensors and Actuators

Inspectie van elektrische installaties
CB-relatie 8109288 · Bijgewerkt 6 augustus 2026