Mijn boeken
Catalogus
Bias Temperature Instability Effects in Devices with Fully-Silicided Gate Stacks, Strained-Si and Multiple-Gate Architectures
A. Shickova

Bias Temperature Instability Effects in Devices with Fully-Silicided Gate Stacks, Strained-Si and Multiple-Gate Architectures

Paperback210 pagina’sEngels
In het kort

Lijkt op dit boek

CB-relatie 8109288 · Bijgewerkt 6 augustus 2026
Bestel bij bol →
← Catalogus
Bias Temperature Instability Effects in Devices with Fully-Silicided Gate Stacks, Strained-Si and Multiple-Gate Architectures
A. Shickova

Bias Temperature Instability Effects in Devices with Fully-Silicided Gate Stacks, Strained-Si and Multiple-Gate Architectures

Paperback210 pagina’sEngels
Bestel bij bol →
In het kort

Lijkt op dit boek

Alles bekijken →
CB-relatie 8109288 · Bijgewerkt 6 augustus 2026