Charge traps at interfaces of high-mobility semiconductor channels with oxide insulators
Thoan Nguyen Hoang
Charge traps at interfaces of high-mobility semiconductor channels with oxide insulators
Paperback156 pagina’sEngels
In het kort
ISBN-13
9789086496006
Verschenen
1 maart 2013
Bibliografisch
ISBN-139789086496006
Editie1
TaalEngels eng
Pagina’s156
GeïllustreerdNee
Uitgave
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Natuurkunde algemeen 924
NUR (alle)924 Natuurkunde algemeen
Medewerkers
Auteur A01Thoan Nguyen Hoang
Herkomst
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
CB-relatie 9359143 · Bijgewerkt 6 augustus 2026