Conductance and gating effects at sputtered oxide interfaces
Chunhai Yin
Conductance and gating effects at sputtered oxide interfaces
In het kort
ISBN-13
9789085934073
Uitgever
Verschenen
3 juli 2019
Imprint
Bibliografisch
ISBN-139789085934073
SerieCasimir PhD-series — deel 2019-24
Editie1
TaalEngels eng
Pagina’s110
GeïllustreerdJa
Uitgave
UitgeverCasimir Research School
ImprintCasimir Research School
CB-relatie-id9953527
Verschenen3 juli 2019
StatusOnbekend 00
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Experimentele natuurkunde 926
NUR (alle)926 Experimentele natuurkunde
Medewerkers
Auteur A01Chunhai Yin
Herkomst
Werk-id (NSTC)500328618
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
NSTC 500328618 · CB-relatie 9953527 · Bijgewerkt 6 augustus 2026