Defect assessment in advanced semiconductor meterials and devices
A. Poyai
Defect assessment in advanced semiconductor meterials and devices
Paperback200 pagina’sEngels
In het kort
ISBN-13
9789056823788
Bibliografisch
ISBN-139789056823788
Editie1
TaalEngels eng
Pagina’s200
GeïllustreerdNee
Uitgave
CB-relatie-id8109288
StatusOnbekend 00
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
Medewerkers
Auteur A01A. Poyai
Herkomst
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
CB-relatie 8109288 · Bijgewerkt 6 augustus 2026