Defect assessment in advanced semiconductor meterials and devices
A. Poyai
Defect assessment in advanced semiconductor meterials and devices
Paperback200 pagina’sEngels
In het kort
ISBN-13
9789056823788
Bibliografisch
ISBN-139789056823788
Editie1
TaalEngels eng
Pagina’s200
GeïllustreerdNee
Uitgave
CB-relatie-id8109288
StatusOnbekend 00
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
Medewerkers
Auteur A01A. Poyai
Herkomst
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
Lijkt op dit boek
Digital Construction Toolkit for Site Managers
Toolkit Digitaal Bouwen voor de Uitvoerder
Toolkit voor de beginnende uitvoerder
Getijtafels voor Nederland 2027
Veiligheid en gereedschap
VCA in eenvoudig Nederlands
Veiligheid voor Operationeel Leidinggevenden
Cursusboek
Veiligheid voor Operationeel Leidinggevenden VCA
cursusboek
CB-relatie 8109288 · Bijgewerkt 6 augustus 2026