Defect based test selection for large mixed-signal circuits
R.G.J. Arendsen
Defect based test selection for large mixed-signal circuits
Niet gespecificeerdNederlands
In het kort
Bibliografisch
ISBN-139789090104096
Editie1
TaalNederlands dut
GeïllustreerdNee
Uitgave
Vorm & inhoud
ProductvormNiet gespecificeerd 00
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Technische wetenschappen algemeen 950
NUR (alle)950 Technische wetenschappen algemeen
Medewerkers
Auteur A01R.G.J. Arendsen
Herkomst
Werk-id (NSTC)500916962
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
Lijkt op dit boek
Gastechnicus
Ontmanteling van een kerncentrale
Waterstof en de verliezen onderweg
Luchtverkeersleiding in gewone taal
Wissels, seinen en de dienstregeling
Teruglevering en negatieve prijzen
Desalination: Drinking the Sea
Brandwerendheid: hoe een gebouw tijd koopt
Tunnelboren onder een bewoonde stad
Chipfabricage van zand tot processor
NSTC 500916962 · CB-relatie 8097521 · Bijgewerkt 6 augustus 2026