Defect-based testing of LTS digital circuits
J. Arun
Defect-based testing of LTS digital circuits
PaperbackNederlands
In het kort
ISBN-13
9789036523622
Uitgever
Bibliografisch
ISBN-139789036523622
Editie1
TaalNederlands dut
GeïllustreerdNee
Uitgave
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Technische wetenschappen algemeen 950
NUR (alle)950 Technische wetenschappen algemeen
Medewerkers
Auteur A01J. Arun
Herkomst
Werk-id (NSTC)500850737
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
NSTC 500850737 · CB-relatie 8186142 · Bijgewerkt 6 augustus 2026