Defect oriented testing for CMOS circuits
M. Sachdev
Defect oriented testing for CMOS circuits
PaperbackNederlands
In het kort
ISBN-13
9789074445276
Uitgever
Verschenen
1 juli 1996
Bibliografisch
ISBN-139789074445276
Editie1
TaalNederlands dut
GeïllustreerdNee
Uitgave
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
Medewerkers
Auteur A01M. Sachdev
Herkomst
Werk-id (NSTC)500802855
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
NSTC 500802855 · CB-relatie 8856971 · Bijgewerkt 6 augustus 2026