Degradation and breakdown of mos gate stacks with high permittivity dielectrics
T. Kauerauf
Degradation and breakdown of mos gate stacks with high permittivity dielectrics
Paperback245 pagina’sEngels
In het kort
ISBN-13
9789056828493
Verschenen
6 juli 2007
Bibliografisch
ISBN-139789056828493
Editie1
TaalEngels eng
Pagina’s245
GeïllustreerdNee
Uitgave
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Technische wetenschappen algemeen 950
NUR (alle)950 Technische wetenschappen algemeen
Medewerkers
Auteur A01T. Kauerauf
Herkomst
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
Lijkt op dit boek
Gastechnicus
Ontmanteling van een kerncentrale
Waterstof en de verliezen onderweg
Luchtverkeersleiding in gewone taal
Wissels, seinen en de dienstregeling
Teruglevering en negatieve prijzen
Desalination: Drinking the Sea
Brandwerendheid: hoe een gebouw tijd koopt
Tunnelboren onder een bewoonde stad
Chipfabricage van zand tot processor
CB-relatie 8109288 · Bijgewerkt 6 augustus 2026