Development of a metrological atomic force microscope
Jan Piot
Development of a metrological atomic force microscope
Paperback193 pagina’sEngels
In het kort
ISBN-13
9789460185960
Verschenen
14 december 2012
Bibliografisch
ISBN-139789460185960
Editie1
TaalEngels eng
Pagina’s193
GeïllustreerdJa
Uitgave
CB-relatie-id8109288
Verschenen14 december 2012
StatusOnbekend 00
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Werktuigbouwkunde 978
NUR (alle)978 Werktuigbouwkunde
Medewerkers
Auteur A01Jan Piot
Herkomst
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
CB-relatie 8109288 · Bijgewerkt 6 augustus 2026