Electrical characterization of functional oxides for resistive random access memory application
Yangyin Chen
Electrical characterization of functional oxides for resistive random access memory application
Paperback198 pagina’sEngels
In het kort
ISBN-13
9789460186622
Verschenen
7 mei 2013
Bibliografisch
ISBN-139789460186622
Editie1
TaalEngels eng
Pagina’s198
GeïllustreerdJa
Uitgave
CB-relatie-id8109288
Verschenen7 mei 2013
StatusOnbekend 00
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Elektrotechniek 959
NUR (alle)959 Elektrotechniek
Medewerkers
Auteur A01Yangyin Chen
Herkomst
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
CB-relatie 8109288 · Bijgewerkt 6 augustus 2026