Electromigration induced stress
V. Petrescu
Electromigration induced stress a study into current induced resistance in VLSI interconnects
Hardback130 pagina’sNederlands
In het kort
ISBN-13
9789036513975
Uitgever
Bibliografisch
ISBN-139789036513975
Editie1
TaalNederlands dut
Pagina’s130
GeïllustreerdJa
Uitgave
Vorm & inhoud
ProductvormHardback BB
SamenstellingLos product
Classificatie
Medewerkers
Auteur A01V. Petrescu
Herkomst
Werk-id (NSTC)500849863
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
NSTC 500849863 · CB-relatie 8186142 · Bijgewerkt 6 augustus 2026