Mijn boeken
Catalogus
Electron spin resonance study of near interfacial point defect in semiconductor (GaAs, Si)/insulator heterostructures
Xuan Sang Nguyen

Electron spin resonance study of near interfacial point defect in semiconductor (GaAs, Si)/insulator heterostructures

Paperback148 pagina’sEngels
In het kort
ISBN-13
9789086496884
Verschenen
20 december 2013

Lijkt op dit boek

CB-relatie 9359143 · Bijgewerkt 6 augustus 2026
Bestel bij bol →
← Catalogus
Electron spin resonance study of near interfacial point defect in semiconductor (GaAs, Si)/insulator heterostructures
Xuan Sang Nguyen

Electron spin resonance study of near interfacial point defect in semiconductor (GaAs, Si)/insulator heterostructures

Paperback148 pagina’sEngels
Bestel bij bol →
In het kort
ISBN-13
9789086496884
Verschenen
20 december 2013

Lijkt op dit boek

Alles bekijken →
CB-relatie 9359143 · Bijgewerkt 6 augustus 2026