Experimental study and optimization of scanning capacitance
N. Duhayon
Experimental study and optimization of scanning capacitance microscopy for two-dimensional carrier profiling of submicron semicond
Hardback232 pagina’sNederlands
In het kort
ISBN-13
9789056827304
Bibliografisch
ISBN-139789056827304
Editie1
TaalNederlands dut
Pagina’s232
GeïllustreerdJa
Uitgave
CB-relatie-id8109288
StatusOnbekend 00
Vorm & inhoud
ProductvormHardback BB
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Technische wetenschappen algemeen 950
NUR (alle)950 Technische wetenschappen algemeen
Medewerkers
Auteur A01N. Duhayon
Herkomst
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
CB-relatie 8109288 · Bijgewerkt 6 augustus 2026