Focused ion beam
Matthijs de Winter
Focused ion beam scanning electron microscopy applied to electrically insulating materials
In het kort
ISBN-13
9789062664054
Verschenen
12 oktober 2015
Bibliografisch
ISBN-139789062664054
SerieUtrecht Studies in Earth Sciences — deel 92
Editie1
TaalEngels eng
Pagina’s214
GeïllustreerdJa
Uitgave
CB-relatie-id8880990
Verschenen12 oktober 2015
StatusOnbekend 00
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Experimentele natuurkunde 926
NUR (alle)926 Experimentele natuurkunde
Medewerkers
Auteur A01Matthijs de Winter
Herkomst
Werk-id (NSTC)500435639
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
NSTC 500435639 · CB-relatie 8880990 · Bijgewerkt 6 augustus 2026