Mijn boeken
Catalogus
Focused ion beam
Matthijs de Winter

Focused ion beam scanning electron microscopy applied to electrically insulating materials

Paperback214 pagina’sEngelsDeel 92 →
In het kort

Lijkt op dit boek

NSTC 500435639 · CB-relatie 8880990 · Bijgewerkt 6 augustus 2026
Bestel bij bol →
← Terug naar resultaten
Focused ion beam
Matthijs de Winter

Focused ion beam

scanning electron microscopy applied to electrically insulating materials
Bestel bij bol →
In het kort

Lijkt op dit boek

Alles bekijken →
NSTC 500435639 · CB-relatie 8880990 · Bijgewerkt 6 augustus 2026