From Models to Mechanisms: Defects and Charge Trapping in Amorphous Silicon Nitride
Lukas Hueckmann
From Models to Mechanisms: Defects and Charge Trapping in Amorphous Silicon Nitride
PaperbackEngels
In het kort
ISBN-13
9789465361260
Uitgever
Verschenen
2 juli 2026
Imprint
Bibliografisch
ISBN-139789465361260
Editie1
TaalEngels eng
GeïllustreerdNee
Uitgave
UitgeverIpskamp Drukkers
ImprintIpskamp Printing
CB-relatie-id6493941
Verschenen2 juli 2026
StatusOnbekend 00
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Natuurkunde algemeen 924
NUR (alle)924 Natuurkunde algemeen
Medewerkers
Auteur A01Lukas Hueckmann
Herkomst
Werk-id (NSTC)501667603
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
Lijkt op dit boek
Relatividade ρ
Relativity ρ - Energy Link of the Universe
De Reis naar de Kiemen van de Tijd
natuurkunde 3 VWO
3 havo
Patronen van creativiteit
Sputtering onions
We see Space through the lens of our Clock. Observer-dependent Space observations.
To the frontier of knowledge
SQT - Scale-invariant Quantum Theory
NSTC 501667603 · CB-relatie 6493941 · Bijgewerkt 6 augustus 2026