Gate-level characterization and reducation of substrate noise
M. Badaroglu
Gate-level characterization and reducation of substrate noise digital integrated circuits
Paperback261 pagina’sNederlands
In het kort
ISBN-13
9789056825317
Bibliografisch
ISBN-139789056825317
Editie1
TaalNederlands dut
Pagina’s261
GeïllustreerdNee
Uitgave
CB-relatie-id8109288
StatusOnbekend 00
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
Medewerkers
Auteur A01M. Badaroglu
Herkomst
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
Lijkt op dit boek
CB-relatie 8109288 · Bijgewerkt 6 augustus 2026