Gate oxide reliability of poly-si and poly-sige cmos devices
V.E. Houtsma
Gate oxide reliability of poly-si and poly-sige cmos devices
Paperback160 pagina’sNederlands
In het kort
ISBN-13
9789036513913
Uitgever
Bibliografisch
ISBN-139789036513913
Editie1
TaalNederlands dut
Pagina’s160
GeïllustreerdJa
Uitgave
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
Medewerkers
Auteur A01V.E. Houtsma
Herkomst
Werk-id (NSTC)500849859
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
Lijkt op dit boek
NSTC 500849859 · CB-relatie 8186142 · Bijgewerkt 6 augustus 2026









