Growth kinetics electrical characterization and reliability study of sub-5 gate dielectrics
T. Nigam
Growth kinetics electrical characterization and reliability study of sub-5 gate dielectrics
Niet gespecificeerd160 pagina’sNederlands
In het kort
ISBN-13
9789056821838
Bibliografisch
ISBN-139789056821838
Editie1
TaalNederlands dut
Pagina’s160
GeïllustreerdNee
Uitgave
CB-relatie-id8109288
StatusOnbekend 00
Vorm & inhoud
ProductvormNiet gespecificeerd 00
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Technische wetenschappen algemeen 950
NUR (alle)950 Technische wetenschappen algemeen
Medewerkers
Auteur A01T. Nigam
Herkomst
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
CB-relatie 8109288 · Bijgewerkt 6 augustus 2026