In-situ RHEED and characterization of ALD A1203 gate dielectrics size
R.G. Bankras
In-situ RHEED and characterization of ALD A1203 gate dielectrics size
PaperbackNederlands
In het kort
ISBN-13
9789036522717
Uitgever
Bibliografisch
ISBN-139789036522717
Editie1
TaalNederlands dut
GeïllustreerdNee
Uitgave
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
Medewerkers
Auteur A01R.G. Bankras
Herkomst
Werk-id (NSTC)500850647
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
Lijkt op dit boek
NSTC 500850647 · CB-relatie 8186142 · Bijgewerkt 6 augustus 2026









