Intrinsic Point Defects in a-SiO2 with Embedded Si Nanoparticles Probed by ESR
Mihaela Jivanescu
Intrinsic Point Defects in a-SiO2 with Embedded Si Nanoparticles Probed by ESR
Paperback164 pagina’sEngels
In het kort
ISBN-13
9789086493500
Verschenen
2 juli 2010
Bibliografisch
ISBN-139789086493500
Editie1
TaalEngels eng
Pagina’s164
GeïllustreerdJa
Uitgave
CB-relatie-id9359143
Verschenen2 juli 2010
StatusOnbekend 00
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Natuurkunde algemeen 924
NUR (alle)924 Natuurkunde algemeen
Medewerkers
Auteur A01Mihaela Jivanescu
Herkomst
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
CB-relatie 9359143 · Bijgewerkt 6 augustus 2026