Low-k dielectric reliability in copper interconnects
L. Yunlong
Low-k dielectric reliability in copper interconnects
Paperback218 pagina’sNederlands
In het kort
ISBN-13
9789056828530
Verschenen
20 september 2007
Bibliografisch
ISBN-139789056828530
Editie1
TaalNederlands dut
Pagina’s218
GeïllustreerdNee
Uitgave
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Technische wetenschappen algemeen 950
NUR (alle)950 Technische wetenschappen algemeen
Medewerkers
Auteur A01L. Yunlong
Herkomst
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
Lijkt op dit boek
Treinen in Nederland: Hoe het Spoor Werkt
Beton Begrijpen: Van Fundering tot Design
Hoe de Luchtvaart Werkt
Gastechnicus
Ontmanteling van een kerncentrale
Waterstof en de verliezen onderweg
Luchtverkeersleiding in gewone taal
Wissels, seinen en de dienstregeling
Teruglevering en negatieve prijzen
Desalination: Drinking the Sea
CB-relatie 8109288 · Bijgewerkt 6 augustus 2026