Modeling and simulation of defect induced faults in CMOS IC's
C. Di
Modeling and simulation of defect induced faults in CMOS IC's
PaperbackNederlands
In het kort
ISBN-13
9789038600406
Verschenen
1 juli 1995
Bibliografisch
ISBN-139789038600406
Editie1
TaalNederlands dut
GeïllustreerdJa
Uitgave
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Technische wetenschappen algemeen 950
NUR (alle)950 Technische wetenschappen algemeen
Medewerkers
Auteur A01C. Di
Herkomst
Werk-id (NSTC)500817624
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
Lijkt op dit boek
Treinen in Nederland: Hoe het Spoor Werkt
Beton Begrijpen: Van Fundering tot Design
Hoe de Luchtvaart Werkt
Gastechnicus
Ontmanteling van een kerncentrale
Waterstof en de verliezen onderweg
Luchtverkeersleiding in gewone taal
Wissels, seinen en de dienstregeling
Teruglevering en negatieve prijzen
Desalination: Drinking the Sea
NSTC 500817624 · CB-relatie 8180218 · Bijgewerkt 6 augustus 2026