Multi-dimensional analysis of nano-scale periodic using EUV and X-ray characterization
Konstantin Nikolaev
Multi-dimensional analysis of nano-scale periodic using EUV and X-ray characterization Theoretical concepts and applications
PaperbackEngels
In het kort
ISBN-13
9789036547987
Uitgever
Verschenen
4 juli 2019
Bibliografisch
ISBN-139789036547987
Editie1
TaalEngels eng
GeïllustreerdNee
Uitgave
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
Medewerkers
Auteur A01Konstantin Nikolaev
Herkomst
Werk-id (NSTC)500327601
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
Lijkt op dit boek
NSTC 500327601 · CB-relatie 8186142 · Bijgewerkt 6 augustus 2026









