Multilevel interconnect reliability
H.V. Nguyen
Multilevel interconnect reliability on the effect of electro-thermomechanical stresses
HardbackEngels
In het kort
ISBN-13
9789036520294
Uitgever
Bibliografisch
ISBN-139789036520294
Editie1
TaalEngels eng
GeïllustreerdJa
Uitgave
Vorm & inhoud
ProductvormHardback BB
SamenstellingLos product
Classificatie
Medewerkers
Auteur A01H.V. Nguyen
Herkomst
Werk-id (NSTC)500850407
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
Lijkt op dit boek
NSTC 500850407 · CB-relatie 8186142 · Bijgewerkt 6 augustus 2026









