Novell applications of ellipsometry and solvent probes for
D. Shamiryan
Novell applications of ellipsometry and solvent probes for chraterising Cu/low-k dielectric materials for advanced semiconducto
Paperback116 pagina’sNederlands
In het kort
ISBN-13
9789056824679
Bibliografisch
ISBN-139789056824679
Editie1
TaalNederlands dut
Pagina’s116
GeïllustreerdNee
Uitgave
CB-relatie-id8109288
StatusOnbekend 00
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
Medewerkers
Auteur A01D. Shamiryan
Herkomst
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
Lijkt op dit boek
Bouwtaalpocket voor de beginnende uitvoerder & stagiair
Digital Construction Toolkit for Site Managers
Toolkit digitaal bouwen voor de uitvoerder
Toolkit voor de beginnende uitvoerder
Getijtafels voor Nederland 2027
Veiligheid en gereedschap
VCA in eenvoudig Nederlands
Veiligheid voor Operationeel Leidinggevenden
Cursusboek
Veiligheid voor Operationeel Leidinggevenden VCA
CB-relatie 8109288 · Bijgewerkt 6 augustus 2026