Optical Metasurfaces for Information Efficient Nanoscale Metrology
Nick Feldman
Optical Metasurfaces for Information Efficient Nanoscale Metrology
Paperback142 pagina’sEngels
In het kort
ISBN-13
9789492323989
Uitgever
Verschenen
17 december 2025
Imprint
Bibliografisch
ISBN-139789492323989
Editie1
TaalEngels eng
Pagina’s142
GeïllustreerdJa
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
Medewerkers
Auteur A01Nick Feldman
Herkomst
Werk-id (NSTC)501645795
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
Lijkt op dit boek
NSTC 501645795 · CB-relatie 8769095 · Bijgewerkt 6 augustus 2026