Oxygen beam interactions during sputter profiling of si, sige and ge substrates
C. Huyghebaert
Oxygen beam interactions during sputter profiling of si, sige and ge substrates
Hardback252 pagina’sNederlands
In het kort
ISBN-13
9789086490776
Bibliografisch
ISBN-139789086490776
Editie1
TaalNederlands dut
Pagina’s252
GeïllustreerdJa
Uitgave
Vorm & inhoud
ProductvormHardback BB
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Technische wetenschappen algemeen 950
NUR (alle)950 Technische wetenschappen algemeen
Medewerkers
Auteur A01C. Huyghebaert
Herkomst
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
Lijkt op dit boek
Gastechnicus
Ontmanteling van een kerncentrale
Waterstof en de verliezen onderweg
Luchtverkeersleiding in gewone taal
Wissels, seinen en de dienstregeling
Teruglevering en negatieve prijzen
Desalination: Drinking the Sea
Brandwerendheid: hoe een gebouw tijd koopt
Tunnelboren onder een bewoonde stad
Chipfabricage van zand tot processor
CB-relatie 9359143 · Bijgewerkt 6 augustus 2026