Physics of trap generation and electrical breakdown in ultra-thin SiO2 and SiON gate dielectric materials
P. Nicollian
Physics of trap generation and electrical breakdown in ultra-thin SiO2 and SiON gate dielectric materials
PaperbackEngels
In het kort
ISBN-13
9789036525633
Uitgever
Verschenen
15 november 2007
Bibliografisch
ISBN-139789036525633
Editie1
TaalEngels eng
GeïllustreerdNee
Uitgave
UitgeverUniversiteit Twente Bibliotheek
CB-relatie-id8186142
Verschenen15 november 2007
StatusOnbekend 00
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Technische wetenschappen algemeen 950
NUR (alle)950 Technische wetenschappen algemeen
Medewerkers
Auteur A01P. Nicollian
Herkomst
Werk-id (NSTC)500643301
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
Lijkt op dit boek
Gastechnicus
Ontmanteling van een kerncentrale
Waterstof en de verliezen onderweg
Luchtverkeersleiding in gewone taal
Wissels, seinen en de dienstregeling
Teruglevering en negatieve prijzen
Desalination: Drinking the Sea
Brandwerendheid: hoe een gebouw tijd koopt
Tunnelboren onder een bewoonde stad
Chipfabricage van zand tot processor
NSTC 500643301 · CB-relatie 8186142 · Bijgewerkt 6 augustus 2026