Point defects at and near interfaces of functional semiconductor (Si, Ge)
Anh Phuc Duc Nguyen
Point defects at and near interfaces of functional semiconductor (Si, Ge) insulator stacks probed by multifrequency electron spin resonance
Paperback146 pagina’sEngels
In het kort
ISBN-13
9789086495542
Verschenen
12 september 2012
Bibliografisch
ISBN-139789086495542
Editie1
TaalEngels eng
Pagina’s146
GeïllustreerdNee
Uitgave
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Natuurkunde algemeen 924
NUR (alle)924 Natuurkunde algemeen
Medewerkers
Auteur A01Anh Phuc Duc Nguyen
Herkomst
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
Lijkt op dit boek
Relatividade ρ
Relativity ρ - Energy Link of the Universe
De Reis naar de Kiemen van de Tijd
natuurkunde 3 VWO
3 havo
Patronen van creativiteit
Sputtering onions
We see Space through the lens of our Clock. Observer-dependent Space observations.
To the frontier of knowledge
SQT - Scale-invariant Quantum Theory
CB-relatie 9359143 · Bijgewerkt 6 augustus 2026