← Catalogus

Radiation - induced degradation effects in CMOS active pixel sensors and design of a radiation-tolerant image sensor

J. Bogaerts

Radiation - induced degradation effects in CMOS active pixel sensors and design of a radiation-tolerant image sensor

Name: Radiation - induced degradation effects in CMOS active pixel sensors and design of a radiation-tolerant image sensor
ISBN: 9789056823382

J. Bogaerts

Niet gespecificeerd235 pagina’sNederlands

In het kort

ISBN-13

9789056823382

Uitgever

Katholieke Universiteit Leuven, Faculteit ingenieurswetenschappen

NUR

950 · Technische wetenschappen algemeen

Lijkt op dit boek

Gastechnicus

Ontmanteling van een kerncentrale

Waterstof en de verliezen onderweg

Luchtverkeersleiding in gewone taal

Wissels, seinen en de dienstregeling

Teruglevering en negatieve prijzen

Desalination: Drinking the Sea

Brandwerendheid: hoe een gebouw tijd koopt

Tunnelboren onder een bewoonde stad

Chipfabricage van zand tot processor

CB-relatie 8109288 · Bijgewerkt 6 augustus 2026

Bestel bij bol →

Radiation - induced degradation effects in CMOS active pixel sensors and design of a radiation-tolerant image sensor

Niet gespecificeerd235 pagina’sNederlands