Reliability Assessment and Lifetime Modelling of p-GaN Gate AlGaN/GaN High-Electron-Mobility Transistors
Arno Stockman
Reliability Assessment and Lifetime Modelling of p-GaN Gate AlGaN/GaN High-Electron-Mobility Transistors
PaperbackEngels
In het kort
ISBN-13
9789463554060
Verschenen
7 oktober 2020
Bibliografisch
ISBN-139789463554060
Editie1
TaalEngels eng
GeïllustreerdNee
Uitgave
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Elektrotechniek 959
NUR (alle)959 Elektrotechniek
Medewerkers
Auteur A01Arno Stockman
Herkomst
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
Lijkt op dit boek
Transformatoren
Integration of novel polarization handling devices on the generic InP platform
Panelenbouw is een vak apart
2 Luchtbehandeling
Zakboek Elektrotechniek
Handboek Explosieveiligheid
Handbook Explosion Safety
Handbuch Explosionsschutz
Industriële automatiseringstechnieken
Silicon Sensors and Actuators
CB-relatie 9151392 · Bijgewerkt 6 augustus 2026