Scanning Probe Microscopy based Subsurface Nano-Imaging for Non-destructive Semiconductor Metrological Applications
D. Mukherjee
Scanning Probe Microscopy based Subsurface Nano-Imaging for Non-destructive Semiconductor Metrological Applications An Experimental Approach
In het kort
ISBN-13
9789038665108
Verschenen
28 oktober 2025
Bibliografisch
Uitgave
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Werktuigbouwkunde 978
NUR (alle)978 Werktuigbouwkunde
Medewerkers
Auteur A01D. Mukherjee
Herkomst
Werk-id (NSTC)501642745
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
Lijkt op dit boek
CRISPR-Cas based strategies against HIV-1 and human coronaviruses
Comparative CRISPR-based systems for HIV gene editing
Inleiding werktuigbouwkundig tekenen, construeren & 3D ontwerpen
Advies
Werktuigkundige Systemen
Werktuigkundige Systemen
Basisboek ontwerpen
Ontwerpen van Technische Innovaties
Regeltechniek
Statica en sterkteleer
NSTC 501642745 · CB-relatie 8180218 · Bijgewerkt 6 augustus 2026