Simulation and optimisation of circuit-level reliability for long-term failure mechanism
D.C.L. van Geest
Simulation and optimisation of circuit-level reliability for long-term failure mechanism
PaperbackNederlands
In het kort
Bibliografisch
ISBN-139789090104560
Editie1
TaalNederlands dut
GeïllustreerdNee
Uitgave
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Technische wetenschappen algemeen 950
NUR (alle)950 Technische wetenschappen algemeen
Medewerkers
Auteur A01D.C.L. van Geest
Herkomst
Werk-id (NSTC)501433177
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
NSTC 501433177 · CB-relatie 8997652 · Bijgewerkt 6 augustus 2026