Simulation and optimisation of circuit-level reliability for long-term failure mechanism
D.C.L. van Geest
Simulation and optimisation of circuit-level reliability for long-term failure mechanism
PaperbackNederlands
In het kort
Bibliografisch
ISBN-139789090104560
Editie1
TaalNederlands dut
GeïllustreerdNee
Uitgave
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Technische wetenschappen algemeen 950
NUR (alle)950 Technische wetenschappen algemeen
Medewerkers
Auteur A01D.C.L. van Geest
Herkomst
Werk-id (NSTC)501433177
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
Lijkt op dit boek
Gastechnicus
Ontmanteling van een kerncentrale
Waterstof en de verliezen onderweg
Luchtverkeersleiding in gewone taal
Wissels, seinen en de dienstregeling
Teruglevering en negatieve prijzen
Desalination: Drinking the Sea
Brandwerendheid: hoe een gebouw tijd koopt
Tunnelboren onder een bewoonde stad
Chipfabricage van zand tot processor
NSTC 501433177 · CB-relatie 8997652 · Bijgewerkt 6 augustus 2026