Mijn boeken
Catalogus
Study of Origin, Impact and Solutions of Processing Damage in Low Dielectric Constant Materials for Advanced Interconnects Applications
Adam Urbanowicz

Study of Origin, Impact and Solutions of Processing Damage in Low Dielectric Constant Materials for Advanced Interconnects Applications

Paperback250 pagina’sEngels
In het kort
ISBN-13
9789086493586
Verschenen
23 september 2010

Lijkt op dit boek

CB-relatie 9359143 · Bijgewerkt 6 augustus 2026
Bestel bij bol →
← Catalogus
Study of Origin, Impact and Solutions of Processing Damage in Low Dielectric Constant Materials for Advanced Interconnects Applications
Adam Urbanowicz

Study of Origin, Impact and Solutions of Processing Damage in Low Dielectric Constant Materials for Advanced Interconnects Applications

Paperback250 pagina’sEngels
Bestel bij bol →
In het kort
ISBN-13
9789086493586
Verschenen
23 september 2010

Lijkt op dit boek

Alles bekijken →
CB-relatie 9359143 · Bijgewerkt 6 augustus 2026