Study of Origin, Impact and Solutions of Processing Damage in Low Dielectric Constant Materials for Advanced Interconnects Applications
Adam Urbanowicz
Study of Origin, Impact and Solutions of Processing Damage in Low Dielectric Constant Materials for Advanced Interconnects Applications
Paperback250 pagina’sEngels
In het kort
ISBN-13
9789086493586
Verschenen
23 september 2010
Bibliografisch
ISBN-139789086493586
Editie1
TaalEngels eng
Pagina’s250
GeïllustreerdJa
Uitgave
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Scheikunde algemeen 913
NUR (alle)913 Scheikunde algemeen
Medewerkers
Auteur A01Adam Urbanowicz
Herkomst
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
Lijkt op dit boek
Van lood tot goud en daar voorbij
Toxic Chemiekaarten, 42 ste editie 2027
Chemie total verrückt! – 111 unglaubliche Fakten, die du nie im Unterricht gehört hast: Für Kinder ab 10 Jahren
Chemie total verrückt! – 111 Fakten
FLEX boek
FLEX boek
Flex-boek
De Aethernanocellen
Toxic Chemiekaarten
havo Scheikunde 2025/2026
CB-relatie 9359143 · Bijgewerkt 6 augustus 2026