Test standards reuse for structured and cost-efficient dependability management of system-on-chips
Ahmed Ibrahim
Test standards reuse for structured and cost-efficient dependability management of system-on-chips
PaperbackEngels
In het kort
ISBN-13
9789036545273
Uitgever
Verschenen
18 april 2018
Imprint
Bibliografisch
ISBN-139789036545273
Editie1
TaalEngels eng
GeïllustreerdNee
Uitgave
UitgeverUniversiteit Twente Bibliotheek
ImprintUniversiteit Twente
CB-relatie-id8186142
Verschenen18 april 2018
StatusOnbekend 00
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
Medewerkers
Auteur A01Ahmed Ibrahim
Herkomst
Werk-id (NSTC)500381054
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
Lijkt op dit boek
NSTC 500381054 · CB-relatie 8186142 · Bijgewerkt 6 augustus 2026