Testability and fault tolerance for emerging nanoelectronic memories
Nor Zaidi Haron
Testability and fault tolerance for emerging nanoelectronic memories
Paperback170 pagina’sEngels
In het kort
ISBN-13
9789072298287
Verschenen
9 mei 2012
Bibliografisch
ISBN-139789072298287
Editie1
TaalEngels eng
Pagina’s170
GeïllustreerdJa
Uitgave
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Computertechniek 958
NUR (alle)958 Computertechniek
Medewerkers
Auteur A01Nor Zaidi Haron
Herkomst
Werk-id (NSTC)500501500
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
Lijkt op dit boek
NSTC 500501500 · CB-relatie 9735112 · Bijgewerkt 6 augustus 2026