Testing of Modern Semiconductor Memory Structures
G.N. Gaydadjiev
Testing of Modern Semiconductor Memory Structures
Paperback130 pagina’sEngels
In het kort
ISBN-13
9789090222233
Uitgever
Verschenen
25 september 2007
Bibliografisch
ISBN-139789090222233
Editie1
TaalEngels eng
Pagina’s130
GeïllustreerdNee
Uitgave
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Technische wetenschappen algemeen 950
NUR (alle)950 Technische wetenschappen algemeen
Medewerkers
Auteur A01G.N. Gaydadjiev
Herkomst
Werk-id (NSTC)500646109
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
Lijkt op dit boek
Gastechnicus
Ontmanteling van een kerncentrale
Waterstof en de verliezen onderweg
Luchtverkeersleiding in gewone taal
Wissels, seinen en de dienstregeling
Teruglevering en negatieve prijzen
Desalination: Drinking the Sea
Brandwerendheid: hoe een gebouw tijd koopt
Tunnelboren onder een bewoonde stad
Chipfabricage van zand tot processor
NSTC 500646109 · CB-relatie 9885444 · Bijgewerkt 6 augustus 2026