Testing RRAM and Computation-in-Memory Devices
Moritz Christiaan Reiner Fieback
Testing RRAM and Computation-in-Memory Devices Defects, Fault Models, and Test Solutions
Paperback156 pagina’sEngels
In het kort
ISBN-13
9789463843560
Uitgever
Verschenen
8 juli 2022
Imprint
Bibliografisch
ISBN-139789463843560
Editie1
TaalEngels eng
Pagina’s156
GeïllustreerdJa
Uitgave
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
Medewerkers
Auteur A01Moritz Christiaan Reiner Fieback
Herkomst
Werk-id (NSTC)501510111
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
Lijkt op dit boek
NSTC 501510111 · CB-relatie 6225289 · Bijgewerkt 6 augustus 2026









